Electron crystallography: application to the system (Bi,Ge)2+x Te3

 
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο




2009 (EL)
Ηλεκτρονική κρυσταλλογραφία: εφαρμογή στο σύστημα (Bi,Ge)2+x Te3
Electron crystallography: application to the system (Bi,Ge)2+x Te3

Αλταντζής, Θωμάς Κωνσταντίνου

Το υλικό Bi2Te3 παρουσιάζει τεχνολογική σημασία λόγω των θερμοηλεκτρικών του ιδιοτήτων. Εμφανίζεται με ρομβοεδρική δομή με τρεις ομάδες των πέντε στρώσεων με την ακολουθία Te1 – Bi – Te2 – Bi – Te1. Η ενίσχυση του υλικού (πρόσμειξη) με Ge οδηγεί στην σύνθεση συνεχών σειρών μονοδιάστατων υπερδομών, που αποτελούνται από ακολουθίες ομάδων των 5 και 7 στρώσεων. Έγιναν παρατηρήσεις δειγμάτων από κρυστάλλους (Bi,Ge)2+xTe3, με x<1, με την Ηλεκτρονική Μικροσκοπία. Η περίθλαση ηλεκτρονίων και η HRTEM, αποκάλυψαν την ύπαρξη διαφόρων μελών των εν λόγω σειρών του δείγματος. Η τεχνική της Precession (Μετάπτωση), χρησιμοποιήθηκε για την λήψη κινηματικών εικόνων περίθλασης, κατά μήκος διαφόρων αξόνων ζώνης. Οι εντάσεις των εικόνων μετρήθηκαν από τις ψηφιοποιημένες εικόνες, υποθέτοντας την ύπαρξη Γκαουσιανής κατανομής της έντασης. Η ανάλυση των δεδομένων χρησιμοποιώντας κατάλληλα προγράμματα, καταλήγει στην εξαγωγή της τελικής δομής των ομάδων 7 στρώσεων και εξακριβώνει την θέση των ατόμων Ge στην δομή του υλικού Bi2Te3.
Bi2Te3 has some technological importance due to it’s thermoelectric properties. It has a rhombohedral layered structure with three five – layer groups with the sequence Te1 – Bi – Te2 – Bi – Te1. Doping of Bi2Te3 with Ge leads to the formation of a continuous series of 1D superstructures that are built up of sequences of five and seven layer lamellae. Electron microscopy observations of specimens prepared of (Bi,Ge)2+xTe3 with x<1, were performed. Electron diffraction and high resolution electron microscopy reveal the presence of several members of the series in the same specimen. The electron beam precession technique was used in order to obtain kinematical electron diffraction patterns along several zone -axis. The intensities of the spots were measured from digitized images, assuming a Gaussian distribution of the intensity. The analysis of the data using standard software packages yields to the exact structure of the 7 layer lamella and thus to the accurate Ge sites in the Bi2Te3 matrix.

info:eu-repo/semantics/masterThesis
Postgraduate Thesis / Μεταπτυχιακή Εργασία

Μετάπτωση
Κρυσταλλογραφία
Pecession
Crystallography
Ηλεκτρόνια
Electrons

Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (EL)
Aristotle University of Thessaloniki (EN)

Ελληνική γλώσσα

2009
2009-12-21T08:12:51Z


Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης, Διατμηματικό Πρόγραμμα Μεταπτυχιακών Σπουδών, Νανοεπιστήμες και Νανοτεχνολογίες

This record is part of 'IKEE', the Institutional Repository of Aristotle University of Thessaloniki's Library and Information Centre found at http://ikee.lib.auth.gr. Unless otherwise stated above, the record metadata were created by and belong to Aristotle University of Thessaloniki Library, Greece and are made available to the public under Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International license (http://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0). Unless otherwise stated in the record, the content and copyright of files and fulltext documents belong to their respective authors. Out-of-copyright content that was digitized, converted, processed, modified, etc by AUTh Library, is made available to the public under Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International license (http://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0). You are kindly requested to make a reference to AUTh Library and the URL of the record containing the resource whenever you make use of this material.
info:eu-repo/semantics/openAccess



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.