Μελέτη ηλεκτρικών ιδιοτήτων επιφανειών με τη χρήση της τεχνικής Kelvin Probe Force Microscopy

 
see the original item page
in the repository's web site and access all digital files if the item*
share




2009 (EN)
Studying the electrical properties of surfaces with Kelvin Proble force microscopy technique
Μελέτη ηλεκτρικών ιδιοτήτων επιφανειών με τη χρήση της τεχνικής Kelvin Probe Force Microscopy

Μπάστας, Νικόλαος Ανδρέα

The current essay deals with the Kelvin probe Force Microscopy (KPFM) technique. In the first chapter, the basic theoretical background is set together with some practical aspects that are crucial for the proper implementation of the experiments. In chapter 2, we focus on the most relevant parameters for the technique in order to figure out the manner and extent of their effect on the electrical and electronic properties of the surfaces. In chapter 3, the results from KPFM measurements from PTFE thin films with embedded ZnO nanoparticles under high concentration are presented and discussed. Finally, in chapter 4, we sum up all the basic conclusions from chapters 2 and 3 and we draw some guidelines for future research efforts.
Η παρούσα εργασία ασχολείται με την τεχνική Kelvin Probe Force Microscopy. Στο κεφάλαιο 1, τίθεται το θεωρητικό υπόβαθρο της τεχνικής, ενώ γίνεται αναφορά σε πρακτικές πλευρές της που είναι κρίσιμες για τη σωστή εκτέλεση των πειραμάτων. Στο κεφάλαιο 2, επικεντρώνουμε στις πιο βασικές παραμέτρους της τεχνικής, ώστε να προσδιορίσουμε τον τρόπο και την έκταση της επίδρασής τους στις ηλεκτρικές και ηλεκτρονικές ιδιότητες των επιφανειών. Στο κεφάλαιο 3, παρουσιάζονται πειραματικές μετρήσεις και τα αποτελέσματα σε επιφάνειες υμενίων PTFE με ενσωματωμένα νανοσωματίδια ZnO σε υψηλές συγκεντρώσεις. Τέλος, στο κεφάλαιο 4, συνοψίζονται όλα τα βασικά συμπεράσματα από τα κεφάλαια 2 και 3 και προτείνονται κατευθύνσεις για μελλοντική έρευνα.

info:eu-repo/semantics/masterThesis
Postgraduate Thesis / Μεταπτυχιακή Εργασία

Atomic force microscopy
Σαρωτική μικροσκοπία διεγέρτη
Electrical properties
Scanning probe microscopy
Μικροσκοπία ατομικών δυνάμεων
Επιφάνειες
Surfaces
Ηλεκτρικές ιδιότητες

Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (EL)
Aristotle University of Thessaloniki (EN)

Greek

2009
2009-12-23T07:20:40Z


Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης, Διατμηματικό Πρόγραμμα Μεταπτυχιακών Σπουδών, Νανοεπιστήμες και Νανοτεχνολογίες

This record is part of 'IKEE', the Institutional Repository of Aristotle University of Thessaloniki's Library and Information Centre found at http://ikee.lib.auth.gr. Unless otherwise stated above, the record metadata were created by and belong to Aristotle University of Thessaloniki Library, Greece and are made available to the public under Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International license (http://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0). Unless otherwise stated in the record, the content and copyright of files and fulltext documents belong to their respective authors. Out-of-copyright content that was digitized, converted, processed, modified, etc by AUTh Library, is made available to the public under Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International license (http://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0). You are kindly requested to make a reference to AUTh Library and the URL of the record containing the resource whenever you make use of this material.
info:eu-repo/semantics/openAccess



*Institutions are responsible for keeping their URLs functional (digital file, item page in repository site)