Ένα από τα πιο ισχυρά και αποτελεσματικά όργανα για τη μελέτη της μικροδομής των υλικών είναι το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο, το οποίο επιτρέπει την μεγεθυμένη απεικόνιση ενός αντικειμένου (δείγματος) με διακριτική ικανότητα της τάξης του nm, μέσω της αλληλεπίδρασής του με μία δέσμη ηλεκτρονίων. Ως διακριτική ικανότητα ορίζουμε την ικανότητα του οργάνου να διακρίνει δύο σημειακές φωτεινές πηγές που βρίσκονται πολύ κοντά η μία στην άλλη. Ο χειρισμός της δέσμης των ηλεκτρονίων που προσπίπτει στο δείγμα, όσο και εκείνων που περιθλώνται από αυτό, γίνεται με τη βοήθεια μαγνητικών φακών. Υπάρχουν διαφόρων ειδών ηλεκτρονικά μικροσκόπια, τα οποία, ανάλογα με τον βασικό μηχανισμό αλληλεπίδρασης είναι γνωστά ως: (α) Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο ∆ιέλευσης, (β) Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Ανάκλασης, (γ) Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εκπομπής, (δ)Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης, (ε) Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Υ-ψηλής Τάσης, κ.α.
Στην παρούσα εργασία θα επιχειρήσουμε την αναλυτική απλή παρουσίαση του τρό-που λειτουργίας του ηλεκτρονικού μικροσκοπίου καθώς και των εφαρμογών των δυνα-τοτήτων του.
Η εισαγωγή περιλαμβάνει τον ορισμό του μικροσκοπίου καθώς και μια σύντομη ισ-τορική αναδρομή στην εφεύρεση και εξέλιξη του ηλεκτρονικού μικροσκοπίου.
Στο πρώτο κεφάλαιο αναλύονται τα μεγέθη και οι μαθηματικοί τύποι και οι ορισμοί εννοιών και μεγεθών που χαρακτηρίζουν το Η.Μ. Επιπλέον γίνεται περιγραφή των κανό-νων οπτικής και σύγκριση του Η.Μ. με το οπτικό μικροσκόπιο.
Στο δεύτερο κεφάλαιο περιγράφονται οι αρχές λειτουργίας του Ηλεκτρονικού Μικ-ροσκοπίου Διέλευσης και του Ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου Σάρωσης και γίνεται σύγ-κριση μεταξύ τους.
Στο τρίτο κεφάλαιο εξετάζονται και αναλύονται οι μέθοδοι παρατήρησης δειγμάτων καθώς και οι μέθοδοι προετοιμασίας τους.
Στο τέταρτο κεφάλαιο παρουσιάζονται οι εφαρμογές του Η.Μ. και επιχειρείται η παρουσίαση τρόπων διδασκαλίας τους στη δευτεροβάθμια εκπαίδευση μέσω προσομοί-ωσης μαθήματος.
Ακολουθούν τα συμπεράσματα της παρούσας εργασίας καθώς και οι περιορισμοί της.
Τέλος αναφέρεται η βιβλιογραφία καθώς και οι διαδυκτιακές πηγές που χρησιμοποι-ήθηκαν κατά την εκπόνηση της εργασίας.
One of the most powerful and effective instruments for studying the microstructure of materials is the electron microscope, which allows the magnified representation of an object (sample) with a spatial resolution of nm, by interacting with an electron beam. As spatial resolution, we define the ability of the instrument to distinguish two point light sources that are very close to one another. The electron beam focus occurs due to magnet-ic lenses. According to the interaction mechanism electron microscopes are distinguished to : (a) Transmission electron microscope (TEM), (b) Scanning electron microscope (SEM), (c) Scanning transmission electron microscope (STEM), (d) Reflection electron microscope (REM), (e) High Voltage electron microscope.
In this paper we will attempt to analyze the function principles of the electronic microscope and its capabilities.
The introduction includes the definition of the microscope as well as a brief histori-cal review of the invention and progression of the electron microscope.
In the first chapter we analyze the mathematical formulas and the definitions of con-cepts and characterizing the electron microscope. In addition, a description of the rules of optics and a comparison between electron and optical microscope is provided..
The second chapter describes the operating principles of the Transmission electron microscope (TEM) and the Scanning electron microscope (SEM) and compares them.
The third chapter examines and analyzes sample observation methods and their methods of preparation.
In the fourth chapter the applications of the electron microscope are presented .Ways of teaching them in secondary education through class simulation are attempted.
The fourth chapter is followed by the conclusions that emerge and this papers limita-tions.
Finally, the bibliography as well as the web sources used in the preparation of the work are mentioned.
Εικόνες 40. Πίνακες 1.
