δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο




1994 (EL)
Supply current testing in linear bipolar ICs

Papakostas, Dimitrios
Hatzopoulos, Alkiviadis

Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών,1994
Fault detection in linear bipolar integrated circuits using power supply current measurements is investigated. The most prevalent, catastrophic and parametric faults, have been modelled for a representative (741 type) opamp. The circuit is simulated under both linear and nonlinear operation. Comparative results between power supply current and output voltage measurements are given, showing the improvement in fault coverage by the use of the current sensing method.

Άλλο
other
Article
Other

Operational amplifiers
Bipolar integrated circuits
Linear integrated circuits
Integrated circuit testing
Fault location
Electric current measurement


Αγγλική γλώσσα

1994-01-20

1350-911X
10.1049/el:19940088
Journal: Electronics Letters, vol.30, no.2, 1994
Papakostas, D. and Hatzopoulos, A. (1994). Supply current testing in linear bipolar ICs. Electronics Letters [online]. 30(2), pp.128-130. Διαθέσιμο σε: http://digital-library.theiet.org/content/journals/10.1049/el_19940088 [Ανακτήθηκε 19 Ιουλίου 2015]
0013-5194

Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά

Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.