Impact Of Circuit Parameter Derivative Calculation on Estimation of Statistical Variables for Analog Fault Detectability Evaluation

 
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Impact Of Circuit Parameter Derivative Calculation on Estimation of Statistical Variables for Analog Fault Detectability Evaluation

Papakostas, Dimitrios
Hatzopoulos, Alkiviadis

Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 2007

Άλλο
other
Conference article
Other


13th IEEE International Mixed Signal Testing Workshop

Αγγλική γλώσσα

2007-06

Papakostas, D. and Hatzopoulos, A. (2007). Impact Of Circuit Parameter Derivative Calculation on Estimation of Statistical Variables for Analog Fault Detectability Evaluation. In: International Mixed Signal Testing Workshop: conference proceedings, Portugal, 2007. [S.l.]: IEEE, pp.37-41.
International Mixed Signal Testing Workshop, Portugal, 2007

Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά

Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.