Wavelet Analysis of Current Measurements for Mixed-Signal Circuit Testing

 
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Wavelet Analysis of Current Measurements for Mixed-Signal Circuit Testing

Dimopoulos, Michael
Papakostas, Dimitrios
Vassios, Vasilios
Hatzopoulos, Alkiviadis

Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 2010
In this paper a test method based on the wavelet transformation of the measured supply current (IPS) and load current (IL) waveforms is presented. In the wavelet analysis, the test metrics used are utilizing the initial three decomposition levels of the measured signal. Experimental comparative results between the proposed method, a test method based on the RMS value of IPS, a test method utilizing the harmonic magnitude components of the IPS spectrum and a method based on the wavelet transformation of the IPS are presented showing the effectiveness of the proposed testing scheme.

Άλλο
other
Conference article
Other

Wavelet transforms
Integrated circuit testing
Mixed analogue-digital integrated circuits
Electric current measurement


International Symposium on Circuits and Systems

Αγγλική γλώσσα

2010-06

10.1109/ISCAS.2010.5537999
International Symposium on Circuits and Systems, Paris, 2010
Papakostas, D., Hatzopoulos, A., Dimopoulos, M. and Vassios, V. (2010). Wavelet Analysis of Current Measurements for Mixed-Signal Circuit Testing. In: International Symposium on Circuits and Systems: conference proceedings, Paris, 2010. Paris: IEEE, pp.1923-1926.

Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά

Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.