Wavelet-based Mixed-Signal Testing using Supply Current Measurements

 
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Wavelet-based Mixed-Signal Testing using Supply Current Measurements

Papakostas, Dimitrios
Dimopoulos, Michael
Spyronasios, Alexios
Konstantinou, Dimitrios
Hatzopoulos, Alkiviadis

Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 2008

Άλλο
other
Conference article
Other


23th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems

Αγγλική γλώσσα

2008-11

Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, Grenoble, 2008
Papakostas, D., Hatzopoulos, A., Spyronasios, A., Dimopoulos, M. and Konstantinou,D. (2008). Wavelet-based Mixed-Signal Testing using Supply Current Measurements. In: Conference on Design of Circuits and Integrated Systems: conference proceedings, Grenoble, 2008. [S.l.: s.n.], pp.5-8.

Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά

Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.