δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Circuit Testing Method Based on Wavelets

Pouros, Sotirios
Papakostas, Dimitrios
Vassios, Vasilios

The paper presents the comparison of waveforms for the input stimulus of a circuit under test, using a testing system incorporated in an FPGA, relying on a method based on wavelet transformation of the supply current or load current waveforms. The method differentiates due to the incorporation of different signal inputs according to the needs of the tester and the specifications of the circuit. This is a distinctive and effective method that offers a single– point test measurement solution and may easily be adapted to test various other analog and mixed-signal systems. Experimental results, derived from measurement comparisons, are presented showing the effectiveness of the proposed testing scheme.
Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 2014

Άλλο
other
Conference article
Other


International Conference In Information Security and Digital Forensics

Αγγλική γλώσσα

2014-12

978-1-941968-03-1
Papakostas, D., Vassios, V. and Pouros, S. (2014). Circuit Testing Method Based on Wavelets. In: International Conference In Information Security and Digital Forensics: conference proceedings, Thessaloniki, 2014. Thessaloniki: SDIWC, pp.81-84.
International Conference In Information Security and Digital Forensics, Thessaloniki, 2014

Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά

Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.