Photoresist line-edge roughness analysis using scaling concepts

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :
ΤΕΙ Αθήνας
Αποθετήριο :
Υπατία - Ιδρυματικό Αποθετήριο
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Photoresist line-edge roughness analysis using scaling concepts (EN)

Πάτσης, Γεώργιος (EL)
Γογγολίδης, Ευάγγελος (EL)
Κωνσταντούδης, Βασίλειος (EL)

N/A (EN)

This paper focuses on the problem of obtaining and characterizing the edge roughness of photoresist lines by analyzing top-down SEM images. AN off-line image analysis algorithm detecting the line edge and an edge roughness characterization scheme, based on scaling analysis, are briefly described. As a result, it is suggested that apart from the rms value of the edge, two more roughness parameters are needed: the roughness exponent α and the correlation length ξ. These characterize the spatial complexity of the edge and determine the dependence of sigma on the length of the measured edge. Completing our previous work on the dependencies of the roughness parameters on various image analysis options, we examine the effect of the type of noise smoothing filter. Then, a comparative study of the roughness parameters of the left and right edges of resist lines is conducted, revealing that the sigma values of the right edges are larger than those of left edges whereas the roughness exponents and the correlation lengths do not show such trend. Finally, the relation between line width roughness and line edge roughness is thoroughly investigated with interesting conclusions. (EN)

conferenceItem
poster

Photoresist materials (EN)
Τραχύτητα εδάφους (EN)
Image analysis (EN)
Φωτοαντιστατικά υλικά (EN)
LER (EN)
Surface roughness (EN)
Ανάλυση εικόνας (EN)

ΤΕΙ Αθήνας (EL)
Technological Educational Institute of Athens (EN)

Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVII (EN)

Αγγλική γλώσσα

2003-02-23

DOI: 10.1117/1.1759325

SPIE (EN)



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.