δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο




1991 (EL)

Internal stress in growing ZrO2 films (EN)

Panagopoulos, ChrN (EN)

The anodic and open-circuit stresses were studied during the potentiostatic anodic oxidation of zirconium. The anodic stress, i.e. the superposition of growth and electrostrictive stresses, was found to be compressive whereas the open-circuit stress was found to be tensile in the growing zirconium oxide. For a constant value of anodization time, the anodic stress was observed to decrease and the opencircuit stress to increase with increasing thickness of the growing zirconium oxide. © 1991. (EN)

journalArticle (EN)

Internal Stress (EN)
Stresses (EN)
Anodic Stress (EN)
Metallurgy & Metallurgical Engineering (EN)
Valve Metals (EN)
Chemistry, Physical (EN)
Zirconium and Alloys (EN)


Journal of The Less-Common Metals (EN)

Αγγλική γλώσσα

1991 (EN)

0022-5088 (EN)
2 (EN)
168 (EN)
ISI:A1991FF60900004 (EN)
182 (EN)
10.1016/0022-5088(91)90299-J (EN)
175 (EN)

ELSEVIER SCIENCE SA LAUSANNE (EN)




*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.