Method of lines for analysis of planar conductors with finite thickness

δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο

Method of lines for analysis of planar conductors with finite thickness (EN)

Papachristoforos, A (EN)

N/A (EN)

The semianalytical method of lines is used for the calculation of capacitances and inductances of parallel transmission lines of finite thickness. The potential function is discretized in one direction (x-co-ordinate) and the first and second derivatives are substituted with their finite difference expressions. This method does not have a convergence problem because of the singular behaviour of the fields at conducting edges of the strips. It takes into account the thickness of the conductors, allowing for realistic modelling and simulation of on-chip and off-chip interconnections at high frequencies. (EN)


Electric conductors (EN)
Semiconductor device structures (EN)
Crosstalk (EN)
Finite thickness (EN)
Planar conductors (EN)
Capacitance measurement (EN)
Electric wiring (EN)
Inductance measurement (EN)
Microwave interconnections (EN)
Printed circuit boards (EN)
Method of lines (EN)
Signal distortion (EN)
Electronics packaging (EN)
Finite difference method (EN)

Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο (EL)
National Technical University of Athens (EN)

IEE Proceedings: Microwaves, Antennas and Propagation (EN)


Publ by IEE, Stevenage, United Kingdom (EN)

*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.