Ablation of nylon-6,6 with UV and IR lasers

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :

Αποθετήριο :
Ψηφιακό Αποθετήριο της Κεντρικής Βιβλιοθήκης του ΕΜΠ | Dspace@NTUA
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Σημασιολογικός εμπλουτισμός από το EKT
Τμήμα περιοδικού (EL)
Επιστημονικό άρθρο (EL)
1995 (EL)
Ablation of nylon-6,6 with UV and IR lasers (EN)
Serafetinides, AA (EN)
Skordoulis, CD (EN)
Makropoulou, M (EN)
In this paper we study the basic phenomenology of nylon-6,6 ablation with XeCl, CO2 and Nd:YAG lasers and quantify on its parameters. The material degradation temperature calculated for pulsed laser heating predicts melting of the polymer surface observed by scanning electron microscopy. The results obtained assist in the elucidation of the polymer degradation mechanism at 308 nm which is important for the manufacturing of plastic optical components. © 1995 Elsevier Science B.V. All rights reserved. (EN)
journalArticle (EN)
Pulsed laser applications (EN)
Scanning electron microscopy (EN)
Computational methods (EN)
Melting (EN)
Surfaces (EN)
Physics, Condensed Matter (EN)
Pulsed laser heating (EN)
Etching (EN)
Scanning Electron Microscopy (EN)
Laser ablation (EN)
Chemistry, Physical (EN)
Physics, Applied (EN)
Degradation (EN)
Materials Science, Coatings & Films (EN)
Solid state lasers (EN)
Thermal effects (EN)
Yag Laser (EN)
Nylon polymers (EN)
Carbon dioxide lasers (EN)
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο
Ψηφιακό Αποθετήριο της Κεντρικής Βιβλιοθήκης του ΕΜΠ | Dspace@NTUA
Κεντρική Βιβλιοθήκη Ε.Μ.Π.
Ιδρυματικό Αποθετήριο
Δημοσιεύσεις μελών Δ.Ε.Π. σε περιοδικά
Applied Surface Science (EN)
Αγγλική γλώσσα
1995 (EN)
http://hdl.handle.net/123456789/11438
0169-4332 (EN)
244 (EN)
ISI:A1995QJ45100044 (EN)
10.1016/0169-4332(94)00413-7 (EN)
1-4 (EN)
239 (EN)
86 (EN)
ELSEVIER SCIENCE BV (EN)



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.