XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films

 
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο




1997 (EL)

XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films (EN)

Frey, U (EN)
Palles, D (EN)
Holiastou, M (EN)
Poulakis, N (EN)
Niarchos, D (EN)
Liarokapis, E (EN)
Adrian, H (EN)

Micro Raman characterization is performed on high quality thin films of Bi2Sr2CuO6+x (2201), Bi2Sr2CaCu2O8+x (2212), Bi2Sr2Ca2Cu3O10+x (2223) made by dc-sputtering. Single crystal x-ray measurements reveal the full epitaxy of the films, which allows for polarized Raman spectra to be obtained. (EN)

journalArticle (EN)

Polarization (EN)
X Rays (EN)
High temperature superconductors (EN)
Micro Raman spectroscopy (EN)
Raman spectroscopy (EN)
Sputtering (EN)
Physics, Applied (EN)
Single crystals (EN)
Superconducting films (EN)
X ray crystallography (EN)
Single Crystal (EN)
Raman Spectra (EN)
Bismuth compounds (EN)
Oxide superconductors (EN)
Epitaxial growth (EN)
Thin Film (EN)
Bismuth strontium calcium copper oxide (EN)


Physica C: Superconductivity and its Applications (EN)

Αγγλική γλώσσα

1997 (EN)

ISI:A1997XZ90500073 (EN)
583 (EN)
584 (EN)
10.1016/S0921-4534(97)00386-9 (EN)
0921-4534 (EN)
PART 2 (EN)
282-287 (EN)

ELSEVIER SCIENCE BV (EN)




*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.