XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films

 
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films (EN)

Frey, U (EN)
Palles, D (EN)
Holiastou, M (EN)
Poulakis, N (EN)
Niarchos, D (EN)
Liarokapis, E (EN)
Adrian, H (EN)

N/A (EN)

Micro Raman characterization is performed on high quality thin films of Bi2Sr2CuO6+x (2201), Bi2Sr2CaCu2O8+x (2212), Bi2Sr2Ca2Cu3O10+x (2223) made by dc-sputtering. Single crystal x-ray measurements reveal the full epitaxy of the films, which allows for polarized Raman spectra to be obtained. (EN)

journalArticle

Polarization (EN)
X Rays (EN)
High temperature superconductors (EN)
Micro Raman spectroscopy (EN)
Raman spectroscopy (EN)
Sputtering (EN)
Single crystals (EN)
Superconducting films (EN)
X ray crystallography (EN)
Single Crystal (EN)
Raman Spectra (EN)
Bismuth compounds (EN)
Oxide superconductors (EN)
Epitaxial growth (EN)
Thin Film (EN)
Bismuth strontium calcium copper oxide (EN)

Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο (EL)
National Technical University of Athens (EN)

Physica C: Superconductivity and its Applications (EN)

1997


ELSEVIER SCIENCE BV (EN)



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.