δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films
(EN)
Frey, U
(EN)
Palles, D
(EN)
Holiastou, M
(EN)
Poulakis, N
(EN)
Niarchos, D
(EN)
Liarokapis, E
(EN)
Adrian, H
(EN)
Micro Raman characterization is performed on high quality thin films of Bi2Sr2CuO6+x (2201), Bi2Sr2CaCu2O8+x (2212), Bi2Sr2Ca2Cu3O10+x (2223) made by dc-sputtering. Single crystal x-ray measurements reveal the full epitaxy of the films, which allows for polarized Raman spectra to be obtained.
(EN)
*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.
Βοηθείστε μας να κάνουμε καλύτερο το OpenArchives.gr.