A circuit for concurrent detection of soft and timing errors in digital CMOS ICs

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :

Αποθετήριο :
Ιδρυματικό Αποθετήριο Ολυμπιάς
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο




2004 (EL)

A circuit for concurrent detection of soft and timing errors in digital CMOS ICs (EN)

Matakias, S. (EN)

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής (EL)
Matakias, S. (EN)

In this paper a new circuit for concurrent soft and timing error detection in CMOS ICs is presented. The circuit is based on current mode sense amplifier topologies to provide fast error detection times. After an error has been detected it can be corrected by using a retry cycle. (EN)

concurrent testing (EN)


Journal of Electronic Testing-Theory and Applications (EN)

Αγγλική γλώσσα

2004





*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.