Sulphur Speciation by a Si-PIN X-ray detector

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :

Αποθετήριο :
Ιδρυματικό Αποθετήριο Πολυτεχνείου Κρήτης
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Σημασιολογικός εμπλουτισμός από το EKT
Τεκμήριο συνεδρίου (EL)
Επιστημονικό άρθρο (EL)
2015 (EL)
Sulphur Speciation by a Si-PIN X-ray detector (EN)
Καλλιθρακας-Κοντος Νικολαος (EL)
Kallithrakas-Kontos Nikolaos (EN)
Moschochoritou R. (EN)
Πολυτεχνείο Κρήτης (EL)
Technical University of Crete (EN)
full paper
conferenceItem
Πολυτεχνείο Κρήτης
Ιδρυματικό Αποθετήριο Πολυτεχνείου Κρήτης
School of Electrical and Computer Engineering - Conference Publications
9th International Conference on "Instrumental Methods of Analysis-Modern Trends and Applications" (EL)
Αγγλική γλώσσα
2015
http://purl.tuc.gr/dl/dias/8DB3E23B-CD18-492C-A95B-79D6031DD0D1http://www.ima2015.teikal.gr/



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.