Analog Fault Detectability based on Statistical Circuit Analysis

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :

Αποθετήριο :
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Σημασιολογικός εμπλουτισμός από το EKT
Άρθρο συνεδρίου (EL)
Επιστημονικό άρθρο (EL)
1996 (EL)
Analog Fault Detectability based on Statistical Circuit Analysis
Papakostas, Dimitrios
Kosmidis, V.
Hatzopoulos, Alkiviadis
Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών,1996
Statistical multi-parameter circuit simulation is used in this work, in order to estimate the fault detection probability of various analog measurements. Since the method is a simulation-before-test approach, its computational complexity can be considered acceptable utilizing modern computer systems. Parameter deviations and multiple Monte-Carlo analysis are properly handled by a shell program, named MPCAP, which uses the SPICE simulator as a kernel. Theoretical analysis for the calculation of the probabilities is given, along with simulation results from an analog filter example.
Άλλο
other
Conference article
Other
Fault diagnosis
Monte Carlo methods
Statistical analysis
Circuit analysis computing
Automatic testing
Integrated circuit testing
Probability
Analogue integrated circuits
Αλεξάνδρειο Τεχνολογικό Εκπαιδευτικό Ίδρυμα (Α.Τ.Ε.Ι.) Θεσσαλονίκης
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών - Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών
Αγγλική γλώσσα
1996-10
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10052
International Conference on Electronics Circuits and Systems, Rhodes, 1996
0-7803-3650-X
10.1109/ICECS.1996.584607
Papakostas, D., Hatzopoulos, A. and Kosmidis, V. (1996). Analog fault detectability based on statistical circuit analysis. IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems [online]. vol.5, pp.1076-1079. Διαθέσιμο σε: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/login.jsp?tp=&arnumber=584607&url=http%3A%2F%2Fieeexplore.ieee.org%2Fxpls%2Fabs_all.jsp%3Farnumber%3D584607 [Ανακτήθηκε 19 Ιουλίου 2015]
Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά
Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.