Wavelet Analysis of Current Measurements for Mixed-Signal Circuit Testing

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :

Αποθετήριο :
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Σημασιολογικός εμπλουτισμός από το EKT
Άρθρο συνεδρίου (EL)
Επιστημονικό άρθρο (EL)
2010 (EL)
Wavelet Analysis of Current Measurements for Mixed-Signal Circuit Testing
Dimopoulos, Michael
Papakostas, Dimitrios
Vassios, Vasilios
Hatzopoulos, Alkiviadis
Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 2010
In this paper a test method based on the wavelet transformation of the measured supply current (IPS) and load current (IL) waveforms is presented. In the wavelet analysis, the test metrics used are utilizing the initial three decomposition levels of the measured signal. Experimental comparative results between the proposed method, a test method based on the RMS value of IPS, a test method utilizing the harmonic magnitude components of the IPS spectrum and a method based on the wavelet transformation of the IPS are presented showing the effectiveness of the proposed testing scheme.
Άλλο
other
Conference article
Other
Wavelet transforms
Integrated circuit testing
Mixed analogue-digital integrated circuits
Electric current measurement
Αλεξάνδρειο Τεχνολογικό Εκπαιδευτικό Ίδρυμα (Α.Τ.Ε.Ι.) Θεσσαλονίκης
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών - Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών
International Symposium on Circuits and Systems
Αγγλική γλώσσα
2010-06
10.1109/ISCAS.2010.5537999
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10083
International Symposium on Circuits and Systems, Paris, 2010
Papakostas, D., Hatzopoulos, A., Dimopoulos, M. and Vassios, V. (2010). Wavelet Analysis of Current Measurements for Mixed-Signal Circuit Testing. In: International Symposium on Circuits and Systems: conference proceedings, Paris, 2010. Paris: IEEE, pp.1923-1926.
Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά
Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.