δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
Selecting input current waveforms using a hardware testing implementation incorporated in FPGAs
Pouros, Sotirios
Papakostas, Dimitrios
Vassios, Vasilios
Hatzopoulos, Alkiviadis
The paper presents the comparison of waveforms for the input stimulus of a circuit under test, using a testing system incorporated in an FPGA, relying on a method based on wavelet transformation of the supply current or load current waveforms. The method differentiates due to the incorporation of different signal inputs according to the needs of the tester and the specifications of the circuit. This is a distinctive and effective method that offers a single-point test measurement solution and may easily be adapted to test various other analog and mixed-signal systems. Experimental results are presented showing the effectiveness of the proposed testing scheme.
Papakostas, D., Hatzopoulos, A., Vassios, V. and Pouros, S. (2014). Selecting Input Current Waveforms Using a Hardware Testing Implementation Incorporated in FPGAs. In: International Conference on Microelectronics: conference proceedings, Belgrade, 2014. Belgrade: IEEE, pp.379-382.
10.1109/MIEL.2014.6842169
978-1-4799-5295-3
International Conference on Microelectronics, Belgrade, 2014
Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά
Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation
*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.
Βοηθείστε μας να κάνουμε καλύτερο το OpenArchives.gr.
