Wavelet-based Mixed-Signal Testing using Supply Current Measurements

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :

Αποθετήριο :
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Σημασιολογικός εμπλουτισμός από το EKT
Άρθρο συνεδρίου (EL)
Επιστημονικό άρθρο (EL)
2008 (EL)
Wavelet-based Mixed-Signal Testing using Supply Current Measurements
Papakostas, Dimitrios
Dimopoulos, Michael
Spyronasios, Alexios
Konstantinou, Dimitrios
Hatzopoulos, Alkiviadis
Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 2008
Άλλο
other
Conference article
Other
Αλεξάνδρειο Τεχνολογικό Εκπαιδευτικό Ίδρυμα (Α.Τ.Ε.Ι.) Θεσσαλονίκης
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών - Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών
23th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
Αγγλική γλώσσα
2008-11
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10088
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, Grenoble, 2008
Papakostas, D., Hatzopoulos, A., Spyronasios, A., Dimopoulos, M. and Konstantinou,D. (2008). Wavelet-based Mixed-Signal Testing using Supply Current Measurements. In: Conference on Design of Circuits and Integrated Systems: conference proceedings, Grenoble, 2008. [S.l.: s.n.], pp.5-8.
Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά
Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.