Methods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :

Αποθετήριο :
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Σημασιολογικός εμπλουτισμός από το EKT
Άρθρο συνεδρίου (EL)
Επιστημονικό άρθρο (EL)
2012 (EL)
Methods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits
Dimopoulos, Michael
Papakostas, Dimitrios
Spyronasios, Alexios
Hatzopoulos, Alkiviadis
Tsatsoulis, N.
Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών,2012
Άλλο
other
Conference article
Other
Αλεξάνδρειο Τεχνολογικό Εκπαιδευτικό Ίδρυμα (Α.Τ.Ε.Ι.) Θεσσαλονίκης
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών - Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών
2nd Panhellenic Conference on Electronics and Telecommunications
Αγγλική γλώσσα
2012-03
Papakostas, D., Spyronasios, A., Hatzopoulos, A., Dimopoulos, M. and Tsatsoulis, N. (2012). Methods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits. In: Panhellenic Conference on Electronics and Telecommunications, Thessaloniki, 2012. Thessaloniki: [s.n.]
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10094
Panhellenic Conference on Electronics and Telecommunications, Thessaloniki, 2012
Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά
Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.