Έλεγχος ποιότητας στις απαιτήσεις εκτύπωσης των κεραιών του RFID συστήματος

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :
ΤΕΙ Αθήνας
Αποθετήριο :
Υπατία - Ιδρυματικό Αποθετήριο
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Έλεγχος ποιότητας στις απαιτήσεις εκτύπωσης των κεραιών του RFID συστήματος (EL)

Ρενιέρη, Δέσποινα (EL)
Βουδούρης, Θ. (EL)
Σπύρου, Ι. (EL)
Νομικός, Σπυρίδων Ι. (EL)
Πετρόπουλος, Ιωάννης (EL)

Δαρζέντας, Ιωάννης (EL)
N/A (EN)

conferenceItem
poster

Τηλεπικοινωνίες (EN)
Telecommunications (EN)
Antennas (EN)

ΤΕΙ Αθήνας (EL)
Technological Educational Institute of Athens (EN)

1ο Πανελλήνιο Συνέδριο Συσκευασίας (EL)

Ελληνική γλώσσα

2008-03-17




*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.