Έλεγχος ποιότητας στις απαιτήσεις εκτύπωσης των κεραιών του RFID συστήματος

This item is provided by the institution :
Technological Educational Institute of Athens   

Repository :
Ypatia - Institutional Repository   

see the original item page
in the repository's web site and access all digital files if the item*



Έλεγχος ποιότητας στις απαιτήσεις εκτύπωσης των κεραιών του RFID συστήματος (EL)

Ρενιέρη, Δέσποινα (EL)
Βουδούρης, Θ. (EL)
Σπύρου, Ι. (EL)
Νομικός, Σπυρίδων Ι. (EL)
Πετρόπουλος, Ιωάννης (EL)

Δαρζέντας, Ιωάννης (EL)

conferenceItem
poster

2015-05-15T17:36:35Z
2015-05-15

2008-03-17


1ο Πανελλήνιο Συνέδριο Συσκευασίας (EL)

**N/A**-Τεχνολογία
Ηλεκτρονική
Technology
**N/A**-Ηλεκτρονική
http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85042383
Electronics
Τηλεπικοινωνίες
Telecommunications
http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85133147
Antennas
Τεχνολογία


http://www.pac.gr/

never
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/




*Institutions are responsible for keeping their URLs functional (digital file, item page in repository site)