Impact Of Circuit Parameter Derivative Calculation on Estimation of Statistical Variables for Analog Fault Detectability Evaluation

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :

Αποθετήριο :
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Σημασιολογικός εμπλουτισμός από το EKT
Άρθρο συνεδρίου (EL)
Επιστημονικό άρθρο (EL)
2007 (EL)
Impact Of Circuit Parameter Derivative Calculation on Estimation of Statistical Variables for Analog Fault Detectability Evaluation
Papakostas, Dimitrios
Hatzopoulos, Alkiviadis
Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 2007
Άλλο
other
Conference article
Other
Αλεξάνδρειο Τεχνολογικό Εκπαιδευτικό Ίδρυμα (Α.Τ.Ε.Ι.) Θεσσαλονίκης
Ιδρυματικό Καταθετήριο Εύρηκα!
Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών - Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών
13th IEEE International Mixed Signal Testing Workshop
Αγγλική γλώσσα
2007-06
Papakostas, D. and Hatzopoulos, A. (2007). Impact Of Circuit Parameter Derivative Calculation on Estimation of Statistical Variables for Analog Fault Detectability Evaluation. In: International Mixed Signal Testing Workshop: conference proceedings, Portugal, 2007. [S.l.]: IEEE, pp.37-41.
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10069
International Mixed Signal Testing Workshop, Portugal, 2007
Δημοσιεύσεις σε Περιοδικά
Το τεκμήριο πιθανώς υπόκειται σε σχετική με τα Πνευματικά Δικαιώματα νομοθεσία
This item is probably protected by Copyright Legislation



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.