1. Αρχική σελίδα
  2. Αναζήτηση

Determination of oxygen content in pulsed laser deposited InN thin films with analytical electron microscopy

Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :
Εθνικό Ίδρυμα Ερευνών (ΕΙΕ)   

Αποθετήριο :
Ήλιος - Αποθετήριο Εθνικού Ιδρύματος Ερευνών  | αποθετήρια EKT   

δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*



Determination of oxygen content in pulsed laser deposited InN thin films with analytical electron microscopy
Κεφαλάς, Αλκιβιάδης Κωνσταντίνος
Drazic, Goran
Σαραντοπούλου, Ευαγγελία
Κόλλια, Ζωή
Kobe, Spomenka
Περίληψη σε συνέδριο
2009-07
New York
Επιστήμη (Γενικά) (EL)
Τεχνολογία (Γενικά) (EL)
Technology (General) (EN)
Science (General) (EN)
Microscopy
Materials Science, Multidisciplinary
Αγγλική γλώσσα
Cambridge University Press
Microscopy and Microanalysis
https://rightsstatements.org/page/InC/1.0/?language=en
© CAMBRIDGE UNIV PRESS
© CAMBRIDGE UNIV PRESS (EN)
Εθνικό Ίδρυμα Ερευνών (ΕΙΕ)
Ήλιος - Αποθετήριο Εθνικού Ιδρύματος Ερευνών
Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ)
Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.