Characterization of Nuclear Targets and Thin Films Using Ion-Beam Techniques

Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :
Hellenic Nuclear Physics Society   

Αποθετήριο :
Annual Symposium of the Hellenic Nuclear Physics Society  | ΕΚΤ eProceedings   

δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*



Characterization of Nuclear Targets and Thin Films Using Ion-Beam Techniques (EN)

Mertzimekis, T. J.
Kanellakopoulos, A.
Paneta, V.
Lagaki, V.

info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion

2012-12-01


We report on the characterization of nuclear targets and thin films using standard ion-beam techniques at the Tandem Accelerator Laboratory (TAL) of INPP, NCSR “Demokritos”. The characterization was carried out with the application of Rutherford Backscattering and standard Nuclear Reaction Anal- ysis using both large and small goniometric chambers available at TAL. Results from the measurements and simulations are presented. (EN)


Targets Characterization (EN)
Ion Beams (EN)

Annual Symposium of the Hellenic Nuclear Physics Society

Αγγλική γλώσσα

Hellenic Nuclear Physics Society (HNPS) (EN)


2654-0088
2654-007X
Annual Symposium of the Hellenic Nuclear Physics Society; Τόμ. 20 (2012): HNPS2012; 160-163 (EL)
HNPS Advances in Nuclear Physics; Vol. 20 (2012): HNPS2012; 160-163 (EN)

Πνευματική ιδιοκτησία (c) 2019 A. Kanellakopoulos, V. Lagaki, T. J. Mertzimekis, V. Paneta (EL)




*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.