Raman scattering in sputtered amorphous Ge25Se75-xBix films

 
Το τεκμήριο παρέχεται από τον φορέα :

Αποθετήριο :
Ψηφιακό Αποθετήριο της Κεντρικής Βιβλιοθήκης του ΕΜΠ | Dspace@NTUA
δείτε την πρωτότυπη σελίδα τεκμηρίου
στον ιστότοπο του αποθετηρίου του φορέα για περισσότερες πληροφορίες και για να δείτε όλα τα ψηφιακά αρχεία του τεκμηρίου*
κοινοποιήστε το τεκμήριο



Σημασιολογικός εμπλουτισμός από το EKT
Τμήμα περιοδικού (EL)
Επιστημονικό άρθρο (EL)
1996 (EL)
Raman scattering in sputtered amorphous Ge25Se75-xBix films (EN)
Mytilineou, E (EN)
Chao, BS (EN)
Papadimitriou, D (EN)
Raman spectra of sputtered amorphous Ge25Se75-xBix films, with x from 0 to 19, have been studied. For x = 0 the typical spectrum of an amorphous GeSe3 glass is obtained. It is dominated by the peaks at 200 and 220 cm(-1), characteristic of the Ge(Se-1/2)(4) tetrahedra and a broad peak at 265 cm(-1), due to the excess Se-Se bonds. The intensity of the 200, 220, 265 cm(-1) peaks decrease and a new broad asymmetric peak appears at 175 cm(-1) whose intensity increases with the increase of the amount of Bi incorporated into the films, This later peak is attributed to Bi2Se3 structural units. (EN)
journalArticle (EN)
Materials Science, Ceramics (EN)
Materials Science, Multidisciplinary (EN)
Raman Scattering (EN)
Raman Spectra (EN)
CHALCOGENIDE GLASSES (EN)
Spectrum (EN)
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο
Ψηφιακό Αποθετήριο της Κεντρικής Βιβλιοθήκης του ΕΜΠ | Dspace@NTUA
Κεντρική Βιβλιοθήκη Ε.Μ.Π.
Ιδρυματικό Αποθετήριο
Δημοσιεύσεις μελών Δ.Ε.Π. σε περιοδικά
Journal of Non-Crystalline Solids (EN)
Αγγλική γλώσσα
1996 (EN)
http://hdl.handle.net/123456789/12013
3 (EN)
279 (EN)
ISI:A1996UG94400009 (EN)
0022-3093 (EN)
10.1016/0022-3093(95)00571-4 (EN)
195 (EN)
285 (EN)
ELSEVIER SCIENCE BV (EN)



*Η εύρυθμη και αδιάλειπτη λειτουργία των διαδικτυακών διευθύνσεων των συλλογών (ψηφιακό αρχείο, καρτέλα τεκμηρίου στο αποθετήριο) είναι αποκλειστική ευθύνη των αντίστοιχων Φορέων περιεχομένου.